通过改变与目标物之间的距离来改变检测元件CMOS 上所聚焦的位置。使用该位置信息进行检测。

如上图所示，通过半导体激光将激光照射到目标物上。目标物的反射光会在受光镜头上聚焦，并成像在光接收元件上。距离一旦变动，🍎聚焦的反射光角度也会改变，光接收元件上的成像位置也随之发生变化。由于该光接收元件上的成像位置变化随目标物的移动量而变化，因此可读取成像位置的变化量，并作为目标物的移动量进行测量。

在发光的激光照射到物体并返回的时间内测量距离。不会影响工件的表面状态，可进行稳定检测。

I检测右图中接收激光反射光的时间T，并计算距离Y。
计算公式为 2Y（往返距离） = C（光速） × T（接收反射光的时间）。