形状测量激光显微系统

VK-X 系列

本产品已停产。

形状测量激光显微系统 VK-X 系列

VK-X 系列 - 形状测量激光显微系统

细微表面形状差异数值化的非接触式粗糙度仪已至佳境。

产品特性

  • 从50 mm 到1 nm 的高精度测量
  • 测量区域 传统产品的16 倍* *与VK-X250的比较
  • 测量时间 最快5 秒

推荐

全新产品

搭载白光干涉仪，可应对从纳米到毫米级别的测量

VK-X3000 系列 - 形状测量激光显微系统

  • 纳米/微米/毫米一台即可完成测量
  • 通过三重扫描方式发挥更强大的测量能力
  • 实现目标样品的台阶高度、平整度、粗糙度、膜厚等测量

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