型号

VK-X1100

类型

测量头

综合倍率

28,800 倍以下^*1

视野 (最小视野范围)

11 µm 至 7,398 µm

帧率 (激光测量速度)

4 至 125 Hz、7,900 Hz^*2

测量原理

光学系统

针孔共聚焦光学系统、变焦

光接收元件

16 bit 感应光电倍增器、超高精细彩色CMOS

扫描方式
(常规测量时及图像拼接时)

自动上下限设定功能、高速光量最佳化功能 (AAGII)、反射光量不足补充功能 (双扫描)

高度测量

显示分辨率

0.5 nm

线性标尺

动态量程
(来自工件的光接收量的适用幅度)

16 bit

重复精度σ

激光共聚焦

20 倍 : 40 nm、50 倍 : 12 nm

变焦

🐽5 倍♛ : 500 nm、10 倍 : 100 nm、20 倍 : 50 nm、50 倍 : 20 nm

高度数据获取范围

70 万步骤

准确性

0.2 + L/100 µm 或更小 (L = 测量长度 µm)^*3

宽度测量

显示分辨率

1 nm

重复精度 3σ

激光共聚焦

20 倍 : 100 nm、50 倍 : 40 nm

变焦

5 倍 ♛: 400 nm、10 倍 : 400 nm、20 倍 : 120 nm、50 倍 : 50 nm

准确性

测量值±2 % 以内^*3

XY 载物台结构

手动 运行范围

70 mm x 70 mm

电动 运行范围

100 mm x 100 mm

观察

观察图像

超高精细彩色CMOS 图像、1ꦡ6 bit 激光彩色共焦点图像、共焦点 + ND 滤波器光学系统、C - 激光微分干涉图像

照明

环状照明、同轴落射照明

测量用激光光源

波长

紫色半导体激光 404 nm

最大输出

1 mW

激光产品

2 类激光产品 (GB7247.1)

电源

电源电压

100 至 240 VAC、50/60 Hz

消耗电流

150 VA

重量

约 13.0 kg